DIT1 7014一體化紅外測溫儀在鑄造行業(yè)的應(yīng)用
    鑄造行業(yè)鐵水與鋼水溫度的測量，常用的方法是光學(xué)高溫計和快速熱電偶插入法兩種。其中光學(xué)高溫計測溫精度較低，且其因無對應(yīng)的電信號輸出，而無法聯(lián)接記錄儀或打印機等記錄設(shè)備，所測溫度只能由人工記錄，無法保證記錄數(shù)據(jù)的真實性?？焖贌犭娕疾迦敕ㄖ校M管其溫度值可由記錄儀記錄，但由于快速熱電偶只能在插入瞬間測量溫度，而不能長時間連續(xù)測溫，故只能在熔煉過程中抽測幾點，無法掌握整個過程的溫度變化情況，而且每次測溫必須人工插入操作，一支電偶只能使用1-2次，電偶消耗較大，使用較麻煩。
    應(yīng)用紅外測溫儀后，只要在距熔爐口十米以內(nèi)的適當(dāng)位置固定安裝紅外探頭，并通過瞄準(zhǔn)器對準(zhǔn)爐口，紅外測溫儀就可自動地連續(xù)測量熔爐內(nèi)的溫度，儀表輸出信號可接記錄儀，打印機和大屏幕顯示儀等外部設(shè)備，可以自動記錄打印出爐內(nèi)溫度變化曲線和測溫時間。只要一次性調(diào)整設(shè)置好測量參數(shù)后，測量系統(tǒng)就可以自動測量并記錄每一爐的溫度情況，為生產(chǎn)管理和工藝改進提供可靠依據(jù)。

ELMS-S-6016-M 玻璃、水泥窯紅外測溫儀

關(guān)鍵詞：軋線棒材鋼坯雙色測溫儀 金屬注射成型燒結(jié)爐紅外測溫儀 真空氫氣爐紅外測溫儀
真空熱壓爐紅外測溫儀 核管退火爐紅外測溫儀 晶體材料紅外測溫儀 晶圓高溫處理爐紅外線測溫儀
氮化硅氣壓爐紅外測溫儀 真空淬火爐高溫計 碳化鎢氣壓爐紅外測溫儀  CVD 化學(xué)氣相沉積高溫爐
石墨純化紅外測溫儀 旋轉(zhuǎn)粉末燒結(jié)爐紅外測溫儀 真空感應(yīng)熔鑄爐紅外測溫儀 熱風(fēng)爐拱頂紅外雙色測溫裝置

ELMS系列單色測溫儀具有堅固的外形，采用不銹鋼機芯（機芯直徑僅為50mm）,密封部件采用耐高溫橡膠，防護等級IP65，適用于工業(yè)場合。軟硬件設(shè)計，適用于一百萬倍信號的處理，可以滿足用戶對儀器精度、重復(fù)性、等各方面的要求。

紅外測溫儀它可廣泛應(yīng)用于熱處理、鑄造、水泥窯、感應(yīng)加熱，單晶硅和多晶硅等各種工業(yè)場合溫度的測量。

紅外探頭用于測量窯爐、爐中的玻璃、熔化池、蓄熱室、澄清池、料道、料滴、模具、浮法線和退火爐，以及冷卻區(qū)和鍍膜區(qū)的溫度。有效的溫度測量反映了加熱或冷卻過程的狀況，如蓄熱室是否變得太熱或太冷，錫槽和退火爐區(qū)域的溫度是否正確等等。對熔融狀態(tài)到冷卻過程的仔細檢測可保證玻璃在每一個制造過程都能保持其特性。

產(chǎn)品特點

2 紅外測溫儀 測溫范圍覆蓋100℃～2200℃

2 紅外測溫儀測溫精度可達0.5%,重復(fù)精度為2℃

2 紅外測溫儀響應(yīng)時間5ms～99.99s可調(diào)

2 紅外測溫儀分辨率0.1℃

2 紅外測溫儀采用可調(diào)焦鏡頭，測量距離0.35m至無窮遠

2 紅外測溫儀高亮度綠色LED光源或目鏡瞄準(zhǔn)，清晰顯示被測目標(biāo)的位置及大小。

2 紅外測溫儀對探測器采用環(huán)境溫度補償，消除環(huán)境溫度對測量溫度的影響

2 紅外測溫儀采用工業(yè)級OLED屏為顯示界面，人機界面友好

2 紅外測溫儀多功能外設(shè)接口：可編程模擬量輸出、報警輸出、1路電平輸出以及1路RS485通訊接口。

2 紅外測溫儀可抗2500VDC脈沖群信號干擾

2 紅外測溫儀最多支持多臺測溫儀總線級聯(lián)，通過PC實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化控制

單色紅外測溫儀原理

目前市場上的單色測溫儀，多為窄波段測溫儀。它的測溫原理是通過物體某一狹窄波長范圍內(nèi)發(fā)生的輻射能量，來決定溫度的大小。測溫儀測量的是一個區(qū)域內(nèi)的平均溫度，測量值受發(fā)射率、鏡頭的污染以及背景輻射的影響。

物體發(fā)出輻射能量的大小與發(fā)射率有一定關(guān)系。發(fā)射率越大，物體發(fā)出的紅外線能量越大。物體的發(fā)射率與物體表面的狀態(tài)有一定關(guān)系，表面的粗糙度、亮暗程度、不同材質(zhì)都會影響發(fā)射率。所以在使用單色測溫儀時，常會有一張不同材質(zhì)的發(fā)射率表。

紅外測溫儀適用場合

紅外高溫計被測物測量面積較大（完全能夠充滿目標(biāo)視場）、表面較平整（不彎曲）、與測量方向小于30度、被測物體 表面理化狀態(tài)穩(wěn)定(非處于氧化、氣化、液化過程之中) 、光學(xué)通道少灰塵和沒有阻擋與衰減等場合下物體溫度的測量。