DIT1-0312A12 雙色高溫計 350℃-1400℃

DIT1-0312AI2 雙色高溫計   雙色測溫方法

DIT1-0616-I2 紅外測溫儀 量程 600～1600℃

DIT雙色紅外測溫儀 鎢鉬燒結 鎢鉬合金粉末測溫 DIT雙色測溫儀 雙色測溫方法

DIT-6 雙色紅外測溫儀 化學氣相沉積專用測溫儀 雙色紅外測溫儀/1000-3000度
DIT比色測溫儀：采用雙色測溫方法，即通過目標物體輻射的兩個紅外波段的能量比值來確定被測物體的溫度。因測量結果取決于兩個波段輻射功率之比，以，輻射能量的部分損失對測量結果沒有影響。可克服傳輸介質有灰塵、煙霧、水汽，視場部遮擋和測量距離變化造成的輻射能量衰減而引起的測量誤差，特別適用于相對惡劣的測溫環(huán)境。 
金屬熱加工過程中，金屬表面不可避免會快速氧化形成氧化層，氧化層會隨溫度變化脫落或者皴裂（例如軋鋼生產線），皴裂氧化皮和金屬本體形成間隙，使得氧化層的溫度低于金屬本體溫度。雙色測溫儀可以很好的克服因此引起的測量誤差。使得生產工藝數(shù)據(jù)且離散性小，便于工藝分析。 
比色測溫對于真空或保護氣體加熱系統(tǒng)也具有，可以克服玻璃窗口材料引起的測量誤差，讓測量值更接近真值。 
DIT比色測溫儀具有目視瞄準系統(tǒng)，非常方便用戶安裝及實時查看測溫儀是否對準目標。對于密封環(huán)境的測量系統(tǒng)，目視瞄準還可以作為爐內工況的觀察窗口。 
DIT比色測溫儀具有豐富的功能，實時高亮溫度測量值顯示，用戶可選測量方式，測量模式，測溫速度，輸出規(guī)格設置。完全滿足客戶各種現(xiàn)場使用需求。人機交互簡單，方便。 
單色溫度計在使用過程中，會遇到以下幾種原因引起的測量誤差：1、材料氧化表面狀態(tài)發(fā)生改變，或者氧化物和原始材料開裂而引起較大的測量誤差。2、材料本身發(fā)射率較低而引起的測量誤差。3、測量環(huán)境惡劣（粉塵，煙霧，水蒸氣等）而引起的測量誤差。4、測量孔徑不能完全滿足測溫儀的視場需求而引起的測量誤差。 
基本參數(shù)： 
測量溫度范圍及響應波長： 
DIT-6H1 600-1400℃ 0.8-1.1μm（鍛造焊管 熱處理 化工） 
DIT-6H2 800-1800℃ 0.4-1.1μm（軋鋼鈦合金材料 耐火材料生產） 
DIT-6H3 1000-3000℃ 0.4-1.1μm（鎢鉬材料真空設備 科研試驗） 
測量精度：±0.75%FS 
重復精度：0.2% 
分 辨 率：0.5℃ 
響應時間：<15ms 
光學參數(shù)： 
透鏡類型：雙膠合透鏡 
探 測 器： SI 
測量距離：0.56m-∞ 
距離系數(shù)：280:1 
可測小目標：2mm 
電氣參數(shù)： 
供電電源：24VDC（±20％，500mA） 
模擬輸出：0-5V /0-20mA /4-20mA 
數(shù)字輸出：RS485（選配） 
功 耗：<1.2W 
絕緣電壓：≤500VAC 
負載能力：≤300? 
操作參數(shù)及執(zhí)行標準： 
環(huán)境溫度：＜60℃ 
相對濕度：10-95%,無冷凝25-45℃ 
物理尺寸：Φ58×183mm 
重 量：0.8kg 
機械沖擊：GB/T2423.8-1995 
熱 沖 擊：GB/T2423.1，GB/T2423.2 
抗干擾標準：JB/T9233.11-1999

比色測溫儀： 采用雙色測溫方法，即通過目標 物體輻射的兩個紅外波段的能量比值來確定被測物體的 溫度。因測量結果取決于兩個波段輻射功率之比，所 以，輻射能量的部分損失對測量結果沒有影響?？煽朔?傳輸介質有灰塵、煙霧、水汽，視場局部遮擋和測量距 離變化造成的輻射能量衰減而引起的測量誤差，特別適 用于相對惡劣的測溫環(huán)境。
金屬熱加工過程中，金屬表面不可避免會快速氧化 形成氧化層，氧化層會隨溫度變化脫落或者皴裂（例如 軋鋼生產線），皴裂氧化皮和金屬本體形成間隙，使得 氧化層的溫度低于金屬本體溫度。比色測溫儀可以很好 的克服因此引起的測量誤差。使得生產工藝數(shù)據(jù)可靠且 離散性小，便于工藝分析。
比色測溫對于真空或保護氣體加熱系統(tǒng)也具有較強 的，可以克服玻璃窗口材料引起的測量誤差，讓測 量值更接近真值。
比色測溫儀具有目視瞄準系統(tǒng)，非常方便用戶 安裝及實時查看測溫儀是否對準目標。對于密封環(huán)境的 測量系統(tǒng)，目視瞄準還可以作為爐內工況的觀察窗口。
比色測溫儀具有豐富的功能，實時高亮溫度測 量值顯示，用戶可選測量方式，測量模式，測溫速度， 輸出規(guī)格設置。完全滿足客戶各種現(xiàn)場使用需求。人機 交互簡單，方便。
單色溫度計在使用過程中，會遇到以下幾種原因引 起的測量誤差： 、材料氧化表面狀態(tài)發(fā)生改變，或者 氧化物和原始材料開裂而引起較大的測量誤差。 、材 料本身發(fā)射率較低而引起的測量誤差。 、測量環(huán)境惡 劣（粉塵，煙霧，水蒸氣等）而引起的測量誤差。 、 測量孔徑不能完全滿足測溫儀的視場需求而引起的測量 誤差。
量程范圍
DITH1 600-1400℃
DITH2 800-1800℃
DITH3 1000-3000℃ 探測器 Si0.4-1.1μm/Si 0.8-1.1μm
測量精度 ±0.75%(FS) 測量精度 0.2% ±
溫度分辨力1℃
響應時間 5ms ≤
發(fā)射率調整 0.80 to 1.10 (0.01) tow-color 0.10 to 1.00(0.01) one-color
現(xiàn)場參數(shù)
280:1 2mm@560mmDITH1,DITH2,DITH3
防護等級 IP65
工作溫度 0 to 65℃ 存儲溫度 -20-70℃ 相對濕度
抗沖擊 GB/T2423.1,GB/t2423.2 抗擾標準 JB/T9233.11-1999