DUALSCOPE® FMP40

自動識別基材，將兩種丈量法相結合（磁感應/電渦流，契合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360規(guī)范），此通用型設備不只能夠對鋼鐵上的多種涂層進行丈量還能夠對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進行丈量。

特色

依據(jù)磁感應法和/或電渦流法對涂層進行非破壞性測量LI>

自動識別基材（FMP40）

可存儲高達20,000個數(shù)據(jù)

可樹立多達100個應用程式

數(shù)據(jù)可存儲 4000個數(shù)據(jù)組

以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地體現(xiàn)丈量成果

能夠輸入進程公役 并核算相應的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk

當超出公役 時，有聲響和視覺警告信號

供給的電腦軟件FISCHER DataCenter 具有以下功用：傳輸和保留丈量值，全部的核算和圖形化評價，簡潔生成并打印個人檢查陳述

典型應用領域

汽車工業(yè)

涂料制作與加工

實驗室

檢查組織

航空工業(yè)

技術參數(shù)：

涂層測厚儀FMP40-可配探頭：

FD10：兩用探頭 磁感應和渦流兩用

測量規(guī)模：磁性：0-1300 μm，渦流，0-800 μm

FGA1.3：磁感應探頭 常用于高精度、薄涂鍍層測量

測量規(guī)模：0-1500μm

測量精度：0.25μm（0-50μm）

0.5（50-1000μm）

＜2.5（1000-1500μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；ф14mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；ф8mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.2mm（差錯＜10）

FGAB1.3：磁感應探頭 常規(guī)丈量、高精度、高讀數(shù)穩(wěn)定性

測量規(guī)模：0-2000μm

測量精度：0.5μm（0-100μm）

0.5（100-1000μm）

＜3（1000-2000μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；ф18mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；ф8mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.2mm（差錯＜10）

FGABI 1.3-150 磁感應探頭 長臂探頭，

*小測ф9mm孔壁涂鍍層

測量規(guī)模：0-1000 μm

測量精度：0.5 μm（0-50 μm）

1（50-1000μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；ф16mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；ф8mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.2mm（差錯＜10）

FTA3.3H 渦流探頭

測量規(guī)模：0-1200 μm

測量精度：0.25 μm（0-50 μm）

0.5（50-800 μm）

＜2（800-1200 μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；當ф50mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；當ф4mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.09mm（差錯＜10）

FTA3.3 渦流探頭

測量規(guī)模：0-1200 μm

測量精度：0.5 μm（0-100 μm）

0.5（100-800 μm）

＜3（800-1200 μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；當ф50mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；當ф4mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.09mm（差錯＜10）